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电子溶剂化中空腔的形成和消失:时间分辨X射线吸收光谱的研究

科学探索万象经验2024-02-24

最近一篇论文使用了时间分辨的 X 射线吸收光谱技术,来研究电子在液态水中的溶剂化过程。他们发现了一些非常有意思的现象,比如电子溶剂化中空腔的形成,以及电子与水分子的相互作用。这些现象对于理解水的物理化学性质,以及水在生命和能源领域的应用,都有重要的意义。

什么是电子溶剂化

首先,我们来看看什么是电子溶剂化。电子溶剂化是指一个自由电子被一个极性溶剂(比如水)包围的过程。这个过程可以通过一些方式实现,比如用高能光子或者电子束轰击溶液,从而产生电离或者激发的水分子,然后这些水分子会释放出电子,或者把电子转移给其他水分子。这些电子就会在溶液中游走,直到它们被溶剂分子捕获,或者被其他物质消除。

电子溶剂化是一个非常快速的过程,它的时间尺度大约是飞秒到皮秒的量级。在这个过程中,溶剂分子会对电子产生强烈的吸引力,因为电子是一个负电荷,而溶剂分子(比如水)是一个偶极子,它有正负两极。所以,溶剂分子会倾向于把自己的正极对准电子,从而形成一个电子溶剂化壳层,这个壳层会把电子包裹起来,使它难以逃逸。这个壳层的厚度大约是几个溶剂分子的大小,比如对于水来说,大约是 0.5 纳米。

电子溶剂化壳层的形成,会导致溶剂分子的排列发生变化,从而影响溶液的结构和性质。比如,溶剂分子会在电子周围形成一个空腔,这个空腔的半径大约是 0.2 纳米,它相当于一个微小的气泡,里面只有一个电子。这个空腔的存在,会降低溶液的密度,增加溶液的体积,改变溶液的折射率和介电常数等物理量。这些变化,可以通过一些光谱技术来探测和测量,从而揭示电子溶剂化的机理和动力学。

如何用X射线光谱学研究电子溶剂化

接下来,我们来看看这篇论文是如何用 X 射线光谱学来研究电子溶剂化的。X 射线光谱学是一种利用 X 射线与物质相互作用的现象,来分析物质的结构和性质的技术。X 射线是一种高能的电磁波,它的波长大约是 0.01 纳米到 10 纳米之间,它可以穿透很多物质,比如金属、岩石、水等。当 X 射线照射到物质上时,它会与物质中的原子或者分子发生各种相互作用,比如散射、吸收、发射等。通过测量这些相互作用的强度和能量,我们就可以得到物质的一些信息,比如原子或者分子的种类、数量、位置、键长、键角、电荷分布等。

在这篇论文中,作者们使用了一种叫做时间分辨 X 射线吸收光谱(TR-XAS)的技术,来研究电子溶剂化的过程。这种技术的原理是这样的:首先,用一束高能的激光脉冲(比如X 射线)来轰击溶液,从而产生电子溶剂化的初始状态;然后,用另一束能量稍低的 X 射线脉冲来探测溶液的变化,这个 X 射线脉冲的延迟时间可以调节,从而实现对不同时间点的观测;最后,通过分析 X 射线脉冲在溶液中的吸收情况,来得到溶液中的电子、OH 自由基、H3O 离子等物种的浓度和分布的变化。这种技术的优点是,它可以实现对电子溶剂化过程的实时监测,而且可以提供原子级别的信息,比如电子溶剂化壳层的形成和空腔的大小等。

电子溶剂化中空腔的形成是怎样的?

最后,我们来看看这篇论文的主要发现和结论。作者们使用了 TR-XAS 技术,对电离液态水的 X 射线吸收光谱进行了测量,他们发现了以下几个有趣的现象:

- 在电离液态水后的第一个飞秒内,电子会被水分子快速捕获,形成一个电子溶剂化壳层,这个壳层的厚度大约是 0.5 纳米,它包含了大约 100 个水分子。这个壳层的形成,会导致水分子的电子密度发生变化,从而在 X 射线吸收光谱中产生一个特征的峰,这个峰叫做电子溶剂化峰,它的能量大约是 535 电子伏特。

- 在电子溶剂化壳层的形成过程中,水分子会在电子周围形成一个空腔,这个空腔的半径大约是 0.2 纳米,它相当于一个微小的气泡,里面只有一个电子。这个空腔的存在,会导致水分子的键长和键角发生变化,从而在 X 射线吸收光谱中产生另一个特征的峰,这个峰叫做空腔峰,它的能量大约是 540 电子伏特。

- 在电子溶剂化壳层和空腔的形成后的几个皮秒内,电子会与水分子发生反应,从而产生 OH 自由基和 H 3 O 离子。这些物种的生成,会导致水分子的氧原子和氢原子的 X 射线吸收边缘发生移动,从而在 X 射线吸收光谱中产生更多的特征峰,这些峰叫做 OH 峰和 H 3 O 峰,它们的能量分别是 537 电子伏特和 542 电子伏特。

- 在电子溶剂化壳层和空腔的形成后的几十个皮秒内,电子会与溶液中的其他物质发生反应,从而消失。这个过程叫做电子消除,它的速率取决于溶液的 pH 值和其他物质的浓度。当电子消除后,电子溶剂化壳层和空腔也会随之消失,从而使 X 射线吸收光谱恢复到初始状态。

通过这些观察,作者们得到了以下几个结论:

- 电子溶剂化中空腔的形成是一个快速的过程,它的时间尺度是飞秒到皮秒的量级,它与电子溶剂化壳层的形成是同步的。

- 电子溶剂化中空腔的形成是一个热力学的过程,它是由于电子的高能量和水分子的偶极子相互作用导致的,它不需要任何外部的力或者场来维持。

- 电子溶剂化中空腔的形成是一个动态的过程,它会随着电子的反应和消除而消失,它的寿命取决于溶液的条件和环境。

这些结论对于理解电子溶剂化的机理和动力学,以及水的物理化学性质,都有重要的意义。它们也为进一步研究水在生命和能源领域的应用,提供了新的视角和方法。